GTEM小室(Gigahertz Transverse Electromagnetic Cell)是電磁兼容(EMC)測試領(lǐng)域中的一項(xiàng)重要技術(shù)設(shè)備，全稱為吉赫茲橫電磁波傳輸室，是一種用于寬帶測量評定被測設(shè)備電磁兼容性能的新技術(shù)。它是根據(jù)同軸及非對稱矩形傳輸線原理設(shè)計(jì)而成的設(shè)備，可用于替代戶外開闊場或電波暗室進(jìn)行電磁兼容測試。
 

　　GTEM小室的工作原理基于橫電磁波(TEM)模式，電場和磁場在傳輸方向上的分量遠(yuǎn)小于在橫向截面上的主分量。小室內(nèi)部被設(shè)計(jì)成一個(gè)封閉的波導(dǎo)結(jié)構(gòu)，其中包含一個(gè)中心金屬塔和金屬殼體。當(dāng)高頻電磁波被引入小室內(nèi)部時(shí)，它們在金屬殼體和中心金屬塔之間反射并傳播，從而形成一個(gè)穩(wěn)定的電磁場。這個(gè)電磁場可以被用來測試各種電磁設(shè)備的性能。
 

　　GTEM小室的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)具有多個(gè)特點(diǎn)，以確保其測試性能和準(zhǔn)確性：
 

　　錐形設(shè)計(jì)：為避免內(nèi)部電磁波的反射和諧振，在外形上被設(shè)計(jì)成錐形。
 

　　特性阻抗：內(nèi)部的特性阻抗被設(shè)計(jì)成50Ω，以匹配常用的測試設(shè)備。
 

　　匹配負(fù)載與吸波材料：為了減小輸入的電磁波在內(nèi)部腔體的末端產(chǎn)生反射，芯板末端接到了寬帶的匹配負(fù)載板上。同時(shí)，在腔體的末端還安放了吸波材料，以便將發(fā)射到末端的電磁波吸收。
 

　　測試區(qū)域：在小室的芯板和底板之間形成矩形均勻場區(qū)，用于放置被測設(shè)備。
 

　　GTEM小室在電磁兼容測試中具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，包括但不限于：
 

　　輻射發(fā)射測試：用于測量設(shè)備在工作過程中產(chǎn)生的電磁輻射發(fā)射水平。
 

　　輻射敏感度測試：評估設(shè)備在受到外部電磁輻射干擾時(shí)的性能和穩(wěn)定性。
 

　　電磁兼容預(yù)測試：在產(chǎn)品開發(fā)階段進(jìn)行預(yù)測試，以確保產(chǎn)品符合相關(guān)的電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)和法規(guī)。
 

　　場的校準(zhǔn)：還可以用于場的校準(zhǔn)，提供準(zhǔn)確的電磁場環(huán)境。