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TEM小室（橫電磁波小室）是國外近年來發(fā)展的一種新型電磁屏蔽和電磁兼容設(shè)備。它是由美國國家標(biāo)準(zhǔn)局于1974年首先提出的用于EMC測(cè)試的同軸波導(dǎo)裝置，與其它EMC測(cè)試場(chǎng)地相比，具有成本低、使用簡便、場(chǎng)分布均勻、屏蔽性能好等特點(diǎn)。它除可作電磁場(chǎng)計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)外還廣泛用作檢測(cè)各種電子設(shè)備，近年來在印刷電路板（PCB）、集成電路（IEC）、BP機(jī)、移動(dòng)通信手機(jī)等小型設(shè)備的輻射發(fā)射試驗(yàn)中的應(yīng)用較為普遍。

頻率高達(dá)1.5GHz的TEM小室，可用于IEC 61967-2、IEC 61967 -8、SAE 1752-3、 IEC 62132-8以及GB/T 42968.2-2024標(biāo)準(zhǔn)對(duì)IC的測(cè)試。

頻率高達(dá)3GHz的TEM小室，可用于IEC 61967-2、IEC 61967 -8、SAE 1752-3、 IEC 62132-8以及GB/T 42968.2-2024標(biāo)準(zhǔn)對(duì)IC的測(cè)試。

頻率高達(dá)3GHz甚至6GHz的TEM小室，可用于IEC 61967-2、IEC 61967 -8、SAE 1752-3、 IEC 62132-8以及GB/T 42968.2-2024標(biāo)準(zhǔn)對(duì)IC的測(cè)試。

頻率高達(dá)8GHz的TEM小室，可用于IEC 61967-2、IEC 61967 -8、SAE 1752-3、 IEC 62132-8以及GB/T 42968.2-2024標(biāo)準(zhǔn)對(duì)IC的測(cè)試。

微橫電磁波小室又稱uTEM小室，根據(jù)JJF1886-2020標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā)，其適用頻率范圍為DC-1GHz，可用于場(chǎng)強(qiáng)傳遞標(biāo)準(zhǔn)的計(jì)量測(cè)試。

開放型TEM小室專為依據(jù)CE和SABJ1113-25標(biāo)準(zhǔn)或其他生物實(shí)驗(yàn)的小型設(shè)備抗擾度測(cè)試而設(shè)計(jì)。其優(yōu)勢(shì)在于開放型的特征，方便控制被測(cè)物的功能。應(yīng)用于如手表、傳呼機(jī)、手機(jī)或PCB的抗擾度測(cè)試。

TEM小室其實(shí)就是一個(gè)變型的同軸線，在此同軸線中部，由一塊扁平的芯板作為內(nèi)導(dǎo)體，外導(dǎo)體為方形，兩端呈錐形向通用的同軸器件過渡，一頭連接同軸線到測(cè)試接收機(jī)，另一頭連接匹配負(fù)載。

TEM小室的外導(dǎo)體的中間部分由頂板、底板和兩塊側(cè)板拼接而成。兩端按橫向矩形截面喇叭狀逐漸收縮，并與特性阻抗為50Ω的同軸電纜外導(dǎo)體連接，形成一個(gè)金屬封閉體，以隔離TEM小室內(nèi)外的電磁環(huán)境，保證外部的電磁環(huán)境不影響室內(nèi)的測(cè)量，室內(nèi)的電磁場(chǎng)被限制在室內(nèi)而不對(duì)室外產(chǎn)生影響。

TEM小室又稱橫電磁波室，是由兩端為喇叭狀逐漸收縮的外導(dǎo)體和中間為帶狀隔板的內(nèi)導(dǎo)體構(gòu)成的特殊矩形截面?zhèn)鬏斁€。在直流到200MHz頻率范圍內(nèi)，TEM小室主要用于對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)和射頻電磁場(chǎng)發(fā)射測(cè)量。